非接触分光膜厚測定システム

メーカーフィルメトリクス
型番F20-UV
カテゴリー検査・分析装置, 膜厚計(膜厚測定装置)
仕様(日本語)測定波長範囲:190~1100nm
膜厚測定範囲:1nm~40μm
光学定数測定膜厚範囲:50nm以上
正確性:膜厚の±0.2%以内(1nm)
測定精度:0.02nm
スポット径:付属ステージ(標準Φ1.5mm、スモールスポットΦ0.1mm)
検出器:1250素子 Siアレイ
光源:重水素・ハロゲンランプ
仕様書有り
管理番号 B002-0003
価格はお問い合わせください